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[主观题]

应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是A.硒鼓检测器B.CR成像板(IP)C.直接转换平板探测器

应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是

A.硒鼓检测器

B.CR成像板(IP)

C.直接转换平板探测器

D.间接转换平板探测器

E.多丝正比室检测器

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更多“应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是A.硒鼓检测器B.CR成像板(IP)C.直接转换平板探测器”相关的问题

第1题

利用碘化铯闪烁体和非晶硅作为探测元的检测器是

A、硒鼓检测器

B、IP成像转化器

C、直接转化平板探测器

D、间接转化平板探测器

E、多丝正比室检测器

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第2题

属于DR成像直接转换方式的是A.非晶硒平板探测器B.碘化铯+非晶硅平板探测器C.利用影像板进行X线摄
属于DR成像直接转换方式的是

A.非晶硒平板探测器

B.碘化铯+非晶硅平板探测器

C.利用影像板进行X线摄影

D.固定IP+CCD摄像机阵列

E.硫氧化钆:铽+非晶硅平板探测器

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第3题

目前最常用的DR系统为A.CsI+CCD阵列B.非晶硅平板探测器C.非晶硒平板探测器
目前最常用的DR系统为

A.CsI+CCD阵列

B.非晶硅平板探测器

C.非晶硒平板探测器

D.多丝正比电离室

E.计算机X线摄影

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第4题

从X线被照体→ 潜影 → 可见光 → 数字影像,这一程序转换的是 ()

A、I.I.TV

B、成像板

C、闪烁体+CCD摄像机阵列

D、直接转换平板探测器

E、间接转换平板探测器

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第5题

英文缩写“CCD”是一种

A、影像板

B、平板探测器

C、薄膜晶体管

D、发光二极管

E、电荷耦合器件

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第6题

CR系统中,直接记录X线影像信息的载体是A.胶片B.磁盘C.成像板D.荧光屏E.平板探测器
CR系统中,直接记录X线影像信息的载体是

A.胶片

B.磁盘

C.成像板

D.荧光屏

E.平板探测器

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第7题

非晶态硒平板探测器的成像性能,错误的是()。

A.分辨力高

B.DQE和MTF高

C.图像层次丰富

D.刷新速度快,利于动态摄影

E.动态范围大

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第8题

CT成像的依据是()

A、横断面图像观察的特性

B、X线的吸收衰减特性

C、探测器的模数转换功能

D、多幅照像成像原理

E、多层面成像技术

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第9题

CR中可记录与读出X线影像信息的载体是A.胶片B.磁盘C.成像板D.荧光屏E.平板探测器

CR中可记录与读出X线影像信息的载体是()

A.胶片

B.磁盘

C.成像板

D.荧光屏

E.平板探测器

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